Início » Biblioteca de documentos » Notas de Aplicação » Snapshot: QDP Analysis of Thin Oxide Layers

Snapshot: QDP Analysis of Thin Oxide Layers

Número de referência: 209-216-002

Glow Discharge Spectroscopy Application Snapshot: Quantitative Depth Profile analysis of thin oxide layer on polished stainless steel

Preencha o formulário para acessar este documento.

Nome(obrigatório)

First Surname

E-mail(obrigatório)

Empresa

Código Postal(obrigatório)

País(obrigatório)

Sales Contact

Please have LECO Sales contact me

Consent + Cookies

I agree to the collection, processing, and use of my personal data by LECO (and its subsidiaries) to receive product information, news, and updates. With this selection, I understand that LECO.com will store my information for 24 hours, so I may explore other resources.

Name

Este campo é para fins de validação e não deve ser alterado.

Linha de produtos

Análise elementar

Técnicas aplicáveis

Espectroscopia de descarga luminescente

Tipo de documento

Notas de Aplicação

Produtos associados

Privado: GDS850

Espectrômetro de emissão atômica com descarga luminescente